摘要：易風化晶體離開母液就會風化并失去結晶溶劑,導致結構塌陷,由單晶變成粉末,從而無法完成測試.X-射線單晶衍射儀易風化晶體低溫顯微上樣系統利用晶體在低溫下比較穩定的原理,通過維持選樣與上樣過程中的低溫環境,使易風化晶體能夠得以測試,從根本上解決了風化晶體的測試問題.系統的研制為易風化晶體化合物結構的測試提供有力的技術保障,是單晶衍射儀功能開發的重要技術創新.
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期刊名稱：分析測試技術與儀器
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