摘要：對取向電工鋼SST（82）和SST（92）單片測試方法的差異進行分析,并對兩者間的測量偏差進行量化評價。結果表明：SST（92）單片測試方法測量比總損耗較SST（82）平均偏高5.03%左右,這主要是因為SST（82）單片測試方法的有效磁路長度不固定,且離散性較大,而有效磁路長度主要跟單片磁軛有關。另外,直接測量試樣磁場強度的H線圈方法由于規避了有效磁路長度的影響,可視為一種可靠的替代方法。